鐵電測(cè)試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測(cè)試裝置，這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線(xiàn)、可測(cè)出具有非對(duì)稱(chēng)電滯回線(xiàn)鐵電薄膜值?？梢赃M(jìn)行電致應(yīng)變測(cè)試，可以蝴蝶曲線(xiàn)功能，設(shè)備還可以擴(kuò)展高溫電阻，高溫介電，電容-電壓曲線(xiàn)，TSC/TSDC等功能。動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)量-DHM、泄漏電流測(cè)量-LM、CV測(cè)量-CVM、疲勞測(cè)量-FM、保持力測(cè)量-RM、印記測(cè)量-IM、脈沖測(cè)量-PM、靜態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)量-SHM、擊穿電壓測(cè)量-BDM等，對(duì)于評(píng)估鐵電材料的性能以及優(yōu)化器件設(shè)計(jì)具有重要意義。

同一種材料，單晶體和多晶體的電滯回線(xiàn)是不同的。如單晶體的電滯回線(xiàn)很接近于矩形，P和P很接近，而且P較高；陶瓷的電滯回線(xiàn)中P與P相差較多，表明陶瓷多晶體不易成為單疇，即不易定向排列。